측정대상물 영역의 측정방법
- Year of Patent
- 2018
- Inventor
- 김민영,정중기,유희옥
- Nationality
- 독일
- Patent Number
- DE102010064640B3
Es wird ein Verfahren zum Messen eines Lötbereichs bereitgestellt, das folgende Schritte umfasst: Einstrahlen einer Vielzahl von Farbbeleuchtungen auf eine Leiterplatte zum Erhalt einer Vielzahl von Farbbildern; Erstellen einer Sättigungskarte mittels einer aus den Farbbildern einer jeden Farbe erhaltenen Farbsättigungsinformation; Festlegen eines Lötbereichs in der Sättigungskarte mittels einer aus den Farbbildern einer jeden Farbe erhaltenen Lichtintensitätsinformation; Erzeugen eines Sättigungsmittelwertes für jede Farbe im Lötbereich; Erstellen einer Varianzkarte mittels der Sättigungsinformation für jede Farbe und des Sättigungsmittelwertes für jede Farbe; und Vergleichen eines Varianzwertes auf der Varianzkarte mit einem kritischen Wert zur Erstellung einer Lötkarte, auf der der Lötbereich dargestellt ist, in welchem ein Lot ausgebildet ist.